ナノテクノロジー


ナノテクノロジー研究用装置

 
 
 
Materials Science

材料科学

ナノテクノロジーは材料科学に新しいブレークスルーを入れるものと位置付けられます。 ナノチューブ、ナノパーティクルおよびナノワイヤを流体、ポリマー、繊維あるいは導電性基板などに含ませることによりこれらの材料の特性は劇的に変化するでしょう。アジレントの AFM 顕微鏡システムはナノスケールでの映像撮影、特性測定および操作に大いに役立ちます。他の測定器群は材料の化学的、生物学的および電子的な変化を評価するのに役立ちます。複数の分野の測定を組み合わせることにより、材料の新しいナノ‐エンジニアリングの完璧な絵が描けます。


織物 / 繊維

5989-2589EN マテリアルの誘電特性測定の基本
5950-3000 インピーダンス測定ハンドブック
5968-1947E インピーダンス測定の8つのヒント
5965-4792E インピーダンス測定用アクセサリー・ガイド
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口腔液

5989-5916EN 臨床中毒研究におけるHPLC-ESI-TOFを用いた正確な分子質量測定
5989-5859JAJP 不活性化(inert) イオン源GC/MS を用いた口腔液中鎮痛剤の分析
5989-5668JAJP 高分解能2-D GC/MS を使用した口腔液中のTHCの確認
5989-1655EN ヒト血清用Agilentマルチプルアフィニティ除去スピンカートリッジ
5989-0265EN プロテオミクスサンプルの前処理におけるヒト血清からの複数の多量タンパク質の除去
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General

5989-6926EN Application of Atomic Force Microscopy (AFM) in Polymer Materials
5989-6376EN Carbon Nanotube Tips for MAC Mode AFM Measurements in Liquids
5989-6515EN Using Non-Contact AFM to Image Liquid Topographies
5989-6821EN Manipulation of Gold Nanoparticles in Liquids Using MAC Mode AFM
5989-6626EN Studies of Polyvinyl Alcohol under Temperature and Humidity Control
5989-6377EN MAC Mode Atomic Force Microscope for Precision Interfacial Force Measurements
5989-6822EN Adsorption of Poly(2-vinylpyridine) Wormlike Polyelectrolyte Brushes
5989-6896EN Probing Polymer Surface Properties with Multiple Imaging Modes
5989-7395EN Probing the Three-Dimensional Structure of Soft Organized Surfactants at the Solid-Liquid Interface via AFM
5989-7699EN New Approach to Generate Thiol-terminated SAMs on Gold

Particles

5989-8054EN Agilent 7020 ZetaProbe Zeta Potential Analyzer Brochure
5989-8052EN Agilent 7010 Particle Size Spectrophometer Brochure
5989-8050EN Agilent 7000 Series Particle Analyzers Brochure
5989-8124EN Basics of Zeta Potential
5989-8123EN Use of the Agilent 7020 ZetaProbe to control suspension stability
5989-8122EN Definitive Quality Control of Titania Coatings with the Agilent 7020 ZetaProbe
5989-8051EN More Reliable, Faster Determination of Isoelectric Point with the Agilent 7020 Zeta Probe

ポリマー

5989-3542EN Agilent 2100バイオアナライザ-アプリケーション概要
5989-5898EN エポキシフェノール系缶詰塗料に含まれる未知の反応副生成物および汚染物質のLC/TOF-MSによる同定
5989-2850JAJP 6890 GC/5973N inert MSD(電子衝撃イオン化法)を用いた高分子材料に含まれるポリ臭化ジフェニルエーテルの定量
5965-9048E ゲル浸透クロマトグラフィを用いたポリスチレン分析
5966-1873E HPLCを用いたゲル浸透クロマトグラフィによる土壌および堆積物のクリーンアップアプリケーション
5965-9041E ポリマーに含まれる抗酸化物質およびUVスタビライザーのHPLC分析
5988-0116EN 発光ポリマーの同定
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半導体

5988-5947EN 半導体グレードの過酸化水素に含まれる微量金属不純物のICP-MS分析
5989-4348EN Agilent 7500cs ICP-MSを用いた半導体グレード塩酸中の不純物測定
5988-9190JAJP 7500cs ICP-MSによる超高純度硫酸中の微量金属不純物の分析
5988-9529JAJP Agilent 7500cs ICP-MS によるシリコンウエハ中の微量金属不純物の分析
5988-8901JAJP 7500cs ICP-MSによるリン酸中の微量金属不純物の分析
5968-8953E キャピラリ電気泳動法による半導体グレードの微量陰イオン測定
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5950-2953 半導体の多点周波数 C-V 測定 (AN 369-5)
5989-2842EN B1500A を用いたCNT FET および SETの特性測定
5989-3608EN B1500A を用いたIV および CV 測定
5989-5927EN ナノプローバ付きAgilent B1500A を用いた故障解析
5988-5920EN 電圧ステップによる準スタティックCV 法を用いたゲート酸化物の評価 AN4156-10
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